因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

輪廓算術(shù)平均偏差（Ra）：表征表面平均高度變化，測量范圍0.01μm至50μm，精度±0.001μm。

微觀不平度十點高度（Rz）：計算十個點的最大峰谷差，測量范圍0.1μm至100μm，分辨率0.05μm。

最大輪廓高度（Rmax）：檢測表面最高點和最低點差值，范圍0.5μm至200μm，誤差限±1%。

輪廓均方根偏差（Rq）：評估表面高度分布的均方根值，范圍0.02μm至60μm，精度±0.002μm。

磨損深度（Wt）：分析材料磨損痕跡的深度，測量范圍0.1μm至100μm，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)±0.5μm。

輪廓峰密度（Pc）：統(tǒng)計單位長度內(nèi)峰的數(shù)量，參數(shù)范圍1-500個/cm，分辨率0.1個/cm。

輪廓谷深度（Rv）：測量平均谷底深度，范圍0.05μm至80μm，精度±0.005μm。

表面波度（Waviness）：評估較長波長表面偏差，波長范圍0.1mm至10mm，振幅0.1μm至50μm。

輪廓支撐長度率（Rmr）：計算支撐長度百分比，參數(shù)范圍10%-90%，分辨率0.1%。

輪廓幅度分布（Rsk）：分析表面高度偏斜度，范圍-3至+3，精度±0.01。

輪廓幅度峰度（Rku）：表征表面高度分布的尖銳度，參數(shù)范圍0-10，誤差限±0.02。

輪廓波長分布（λ）：測量表面周期性結(jié)構(gòu)的波長，范圍0.01mm至5mm，精度±0.001mm。

表面紋理方向（Lay）：評估紋理取向角度，范圍0°至360°，分辨率0.1°。

輪廓濾波參數(shù)（λc和λs）：應(yīng)用濾波器分離粗糙度和波度，截止波長范圍0.08mm至8mm。

檢測范圍

金屬加工件：包括車削、銑削和磨削零件，如軸承套圈表面粗糙度評估。

塑料制品：注塑成型產(chǎn)品表面，如外殼和容器，檢測注塑缺陷的影響。

陶瓷材料：燒結(jié)陶瓷表面，如電子基板，評估燒結(jié)工藝的均勻性。

復(fù)合材料：層壓板和纖維增強材料，如碳纖維部件，分析界面粗糙度。

汽車引擎部件：活塞環(huán)和氣缸壁表面，影響摩擦和磨損性能。

航空航天部件：渦輪葉片和機身結(jié)構(gòu)表面，確保空氣動力學(xué)和疲勞強度。

電子封裝材料：印刷電路板（PCB）和半導(dǎo)體晶圓表面，檢測互聯(lián)可靠性。

醫(yī)療器械：手術(shù)工具和植入物表面，評估生物相容性和清潔度。

模具表面：注塑模具和壓鑄模具，優(yōu)化成型質(zhì)量和脫模特性。

光學(xué)元件：透鏡和反射鏡表面，影響光學(xué)性能和散射損失。

紡織機械部件：紡錘和羅拉表面，減少纖維磨損。

船舶構(gòu)件：螺旋槳和船體表面，提高流體效率和耐腐蝕性。

建筑裝飾材料：大理石和瓷磚表面，評估美觀和防滑性能。

能源設(shè)備部件：風(fēng)力渦輪機葉片和太陽能電池板表面，優(yōu)化能量轉(zhuǎn)換效率。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

依據(jù)ISO 4287:1997定義表面紋理術(shù)語和參數(shù)。

ISO 4288:1996規(guī)定表面紋理測量規(guī)則和濾波應(yīng)用。

ASTM E430-11規(guī)范使用光學(xué)儀器測量表面粗糙度程序。

GB/T 1031-2009產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法測量標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 3505-2009定義表面結(jié)構(gòu)的基本術(shù)語和評定參數(shù)。

ISO 1302:2002技術(shù)產(chǎn)品文件表面紋理標(biāo)注表示法。

ASTM D7127-17塑料表面粗糙度測量標(biāo)準(zhǔn)方法。

DIN 4768德國表面粗糙度參數(shù)測量和評估標(biāo)準(zhǔn)。

JIS B 0601:2001日本工業(yè)表面粗糙度定義和測量規(guī)范。

GB/T 10610-2009產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法接觸式儀器測量要求。

ISO 16610-21表面紋理濾波方法的通用規(guī)則。

GB/T 18778.1-2002產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法測量儀器特性檢定。

檢測儀器

觸針式表面粗糙度測量儀：使用金剛石觸針掃描表面輪廓，測量Ra、Rz和Rmax值。

光學(xué)輪廓儀：基于白光干涉原理，非接觸式生成三維表面圖像和分析波紋度。

原子力顯微鏡（AFM）：高分辨率探針掃描納米級表面，評估微觀不平度和缺陷。

激光掃描顯微鏡：激光束掃描表面生成點云數(shù)據(jù)，測量復(fù)雜幾何形狀的粗糙度。

共聚焦顯微鏡：聚焦光束成像表面深度，分析材料微觀紋理和孔洞分布。

輪廓投影儀：光學(xué)放大表面輪廓并投射圖像，手動測量輪廓高度和峰谷差值。

白光干涉儀：利用干涉條紋分析表面高度變化，精確測定波長和振幅參數(shù)。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進(jìn)行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件